Fiches techniques
Article publié le 28 juillet 2008
Méthode flash appliquée aux mesures thermiques dans les milieux semi-transparents, CETHIL
Le microscope thermique à sonde locale, CETHIL
Caractérisation pompe-sonde des matériaux laser solides à base d’ions de terres rares ou d’ions de transition, CIMAP-MIL
Caractérisation par résonances magnétiques électroniques (RPE et ENDOR) de matrices contenant des ions de transitions, de terres rares ou des défauts ponctuels, LCMCP
Plate-forme de caractérisation des propriétés électro-optiques, LMOPS
Mesure automatisée d’indice de réfraction non linéaire (plate-forme MAT-LAS), CPMOH
Spectroscopie linéaire et réponse ultra rapide de matériaux non linéaires et de cristaux semiconducteur, IPCMS GONLO
Caractérisation de matériaux par mélange d’ondes photoréfractif, LCFIO
Banc de caractérisation pour des lasers pompés par diode de puissance, LCFIO
Mesures de photo-courant pour la caractérisation de défauts dans les cristaux, LGEP
Spectroscopie et luminescence UV-visible des matériaux dopés ions de transition ou ions de terres rares, LPCML
Caractérisation interférométrique de matériaux massifs : absorption résiduelle, coefficients thermo-optiques, piézoélectriques et électro-optiques, ICB
Plate-forme sphère pour la métrologie des propriétés optiques cristallines linéaires, non linéaires et de luminescence, Institut Néel
